人體或帶電物體在向敏感的電子器件放電時(shí)，會(huì)導(dǎo)致器件發(fā)生故障，嚴(yán)重影響汽車電子產(chǎn)品的正常工作，甚至導(dǎo)致其損壞，進(jìn)行車載ESD靜電測(cè)試對(duì)于確保汽車電子產(chǎn)品的可靠性和耐久性至關(guān)重要。

1.AEC-Q101 要求器件進(jìn)行的兩種ESD測(cè)試

a.人體放電模式(Human-Body Model, HBM) AEC Q101-001

模擬因人體在地上走動(dòng)磨擦或其他因素，在人體上已累積了靜電，當(dāng)此人去碰觸器件引腳時(shí)，人體上的靜電瞬間產(chǎn)生的電流可能造成損毀。

b.元件充電模式(Charged-Device Model, CDM) AEC Q101-005

器件因磨擦或感應(yīng)等因素而在內(nèi)部累積靜電,此帶有靜電的器件在作業(yè)過程中，其引腳碰觸到接地導(dǎo)體時(shí),內(nèi)部的靜電便會(huì)經(jīng)由接腳流出而造成放電現(xiàn)象。

2.實(shí)驗(yàn)條件

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)，HBM和CDM模式要求分別測(cè)試30個(gè)器件，將樣本量分為三個(gè)樣品組，應(yīng)按照下圖的測(cè)試流程圖，在應(yīng)力電壓水平下對(duì)每個(gè)樣本組施加應(yīng)力，每個(gè)應(yīng)力電壓水平測(cè)試十個(gè)器件。

3.失效判定

關(guān)鍵的參數(shù)及允許的偏移值

4.實(shí)驗(yàn)設(shè)備

CDM測(cè)試機(jī)

來自Hanwa旗下的CDM測(cè)試機(jī)，支持1096以上管腳測(cè)試數(shù)量，最高4KV測(cè)試電壓。

HBM測(cè)試機(jī)

來自Hanwa旗下的CDM測(cè)試機(jī)，根據(jù)配置，最高支持2048通道，我司實(shí)驗(yàn)室設(shè)備支持768通道，支持HBM/MM/Latch-up測(cè)試。