隨著高速互聯(lián)鏈路信號(hào)傳輸速率的不斷提高，作為器件和信號(hào)傳輸?shù)妮d體，印制電路板（PCB）的信號(hào)完整性對(duì)通信系統(tǒng)的電氣性能有著至關(guān)重要的影響。尤其是10G和25G+產(chǎn)品的大規(guī)模商用，對(duì)PCB傳輸線插入損耗（Insertion Loss）指標(biāo)的監(jiān)控是高速PCB研發(fā)和量產(chǎn)過(guò)程中管控的重要手段，不同高速產(chǎn)品，客戶對(duì)信號(hào)損耗會(huì)有不同的要求，以服務(wù)器產(chǎn)品為例，Intel基于不同的服務(wù)器平臺(tái)，對(duì)PCB帶狀線和微帶線的損耗有著不同的損耗控制要求。

        Delta L法是Intel提出，目前已大量應(yīng)用于服務(wù)器產(chǎn)品量產(chǎn)測(cè)試的方法，是SET2DIL方法的替代。Delta L法設(shè)計(jì)兩條不同長(zhǎng)度的傳輸線（如圖6所示），傳輸線通過(guò)過(guò)孔（Via）、焊盤(pán)（Pad）等連接至測(cè)試探針或SMA，采用VNA測(cè)試長(zhǎng)短線的插損值，其中，結(jié)構(gòu)A的插損值ILA = ILX1 + ILVias，結(jié)構(gòu)B的插損值ILB = ILX2 + ILVias，在獲取長(zhǎng)短線的插損后，先進(jìn)行擬合運(yùn)算，消除多重反射的影響，再直接做差值操作，從而獲得單位長(zhǎng)度傳輸線的插損值：IL = (ILA-ILB) / (X1-X2)。為弱化測(cè)試系統(tǒng)的的不匹配效應(yīng)及多重反射對(duì)插損結(jié)果的影響，Delta L法對(duì)長(zhǎng)度線的長(zhǎng)度有嚴(yán)格要求，一般地，長(zhǎng)短線差異需大于7.5 cm，以降低多重反射的影響。

        英鉑科學(xué)儀器提供Delta-L3.0，Delta-L4.0先進(jìn)intel測(cè)試算法以及測(cè)試夾具精確的測(cè)試高達(dá)40GHz的插入損耗（IL）值，提供Pass/Fail判斷，通過(guò)軟件連接矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)，數(shù)據(jù)批量測(cè)試能力強(qiáng)，支持SMA接頭以及專用探頭硬件連接方式。