半自動探針臺適用于哪些晶圓量測應(yīng)用？返回列表
半自動探針臺適用于多種晶圓量測應(yīng)用：• 模塊量測 - DC-IV, DC-CV, Pulse-IV, ESD, 1 f，RTS• 射頻和毫米波 - 26 GHz
半自動探針臺適用于多種晶圓量測應(yīng)用：
• 模塊量測 - DC-IV, DC-CV, Pulse-IV, ESD, 1/f，RTS
• 射頻和毫米波 - 26 GHz 至 110 GHz 及以上
• 可靠性測試 - 精確的壓力測試
MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽環(huán)境
• 專為 EMI / RFI / Light-tight 屏蔽所設(shè)計的精密量境，以得到出色的 1/f 超低噪測試結(jié)果
• 支援 fA 級超低噪 IV 量測
• 可編程的顯微鏡滑臺實現(xiàn)自動化之簡便操作
• 具配置彈性的溫度可量測范圍 -60 °C 至 300 °C
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