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Hanwa產(chǎn)品
T5000 高性能TLP & VF-TLP
G5000 最高2048pin ESD測(cè)試儀
C5000R 全自動(dòng)CDM測(cè)試儀
W5000M 晶圓級(jí)ESD測(cè)試儀
S5000R 最高256pin ESD測(cè)試儀
HCE-5000 便攜式ESD測(cè)試儀
開(kāi)循環(huán)極低溫探針臺(tái) 閉循環(huán)極低溫探針臺(tái) 閉循環(huán)磁場(chǎng)探針臺(tái) 低溫磁場(chǎng)探針臺(tái) ICE低溫恒溫器 磁場(chǎng)產(chǎn)品
MPI手動(dòng)直流射頻晶圓級(jí)探針臺(tái) MPI半自動(dòng)直流射頻晶圓級(jí)探針臺(tái) MPI全自動(dòng)直流射頻晶圓級(jí)探針臺(tái) MPI高功率直流射頻晶圓級(jí)探針臺(tái) MPI射頻探針 MPI全自動(dòng)KGD系統(tǒng) MPI全自動(dòng)分選機(jī) MPI全系列測(cè)試耗材
臺(tái)階儀 熱流儀 酸/激光開(kāi)封機(jī) EMMI微光顯微鏡系列 先進(jìn)封裝時(shí)域失效分析 Hitachi日立掃描電子顯微鏡 瞬態(tài)熱阻測(cè)試儀 拉曼光譜檢測(cè)應(yīng)用 IV曲線追蹤測(cè)試儀
Keithley Maury Keisight 概倫電子 R&S 網(wǎng)絡(luò)分析儀 Farran毫米波系統(tǒng) 晶圓級(jí)動(dòng)態(tài)功率測(cè)試系統(tǒng) IWATSU半導(dǎo)體曲線圖示儀 化合物功率器件動(dòng)態(tài)老化HTOL測(cè)試機(jī)
OKMETIC硅片產(chǎn)品 應(yīng)用領(lǐng)域 化學(xué)機(jī)械拋光機(jī) CMP 后清洗機(jī)
MSA-650 IRIS 顯微式激光測(cè)振儀 MSA-600顯微式激光測(cè)振儀 MSA-100-3D顯微式激光測(cè)振儀 MSA-060顯微式激光測(cè)振儀
低真空鍍膜產(chǎn)品 高真空鍍膜產(chǎn)品 國(guó)產(chǎn)高頻110G-500G探針 樣品桿
探針冷熱臺(tái) 外置探針冷熱臺(tái) 掃描電鏡冷熱臺(tái) XRD原位冷熱臺(tái)
3D X射線掃描儀Xray 方塊電阻測(cè)量系統(tǒng) 薄膜厚度儀 探針式輪廓儀 光學(xué)輪廓儀 納米壓痕儀
CP測(cè)試設(shè)備 KGD測(cè)試設(shè)備 WLBI測(cè)試設(shè)備 氮?dú)饧訜嵯到y(tǒng)
阻抗調(diào)諧器 有源負(fù)載牽引系統(tǒng) 脈沖 IV 測(cè)試系統(tǒng) 噪聲參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
英鉑實(shí)驗(yàn)室測(cè)試中心現(xiàn)有測(cè)試類(lèi)型:直流測(cè)試、射頻測(cè)試、
高壓大電流測(cè)試、光電測(cè)試、極低溫磁場(chǎng)測(cè)試、ESD/TLP測(cè)試、PCB板級(jí)測(cè)試等

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3、模擬芯片

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5、功率器件

