業(yè)界領(lǐng)先的1/f & RTN測試方案TS3000-SE半自動12寸直流/射頻探針臺

TS3000-SE探針系統(tǒng)的進一步發(fā)展,為超低噪聲及準確和高度可靠的DC/Cv,1/f RTN和射頻測量,主要解決器件特性測試需要,晶片及可靠性和射頻和毫米波應用。獨特主動高低溫樣品臺設(shè)計提供了最大的穩(wěn)定性,寬溫度范圍從-60度到300度,使TS3000-SE探針臺系統(tǒng)成為不同熱條件下測試設(shè)備的絕佳選擇。

產(chǎn)品優(yōu)勢

9812DX 低頻噪聲測試系統(tǒng)

出色的半導體公司所采用的標準測試系統(tǒng)格

體系架構(gòu)的可靠性和精度:>100客戶，>20年O

任意待測類型,晶圓級最高精度和測試帶寬舍

最寬電壓、最寬電流最寬阻抗測量范圍

高精度下業(yè)界出色的測試速度和并行測試吞吐率R

產(chǎn)品優(yōu)勢

FS-Pro基于AI算法驅(qū)動的半導體

參數(shù)測試系統(tǒng)

知名大學和科研院所廣泛采用的標準測試儀器骼

超快速:較傳統(tǒng)測試系統(tǒng),測試速度高達10倍

)廣泛的應用范圍:被工業(yè)界和科研領(lǐng)域所采用食

多通道:最高可支持高達100個測試通道

可擴展架構(gòu):可擴展至晶圓量產(chǎn)測試(WAT)

產(chǎn)品應用

先進半導體工藝質(zhì)量監(jiān)控和工藝平臺評估

器件噪聲特性測試和SPICE模型庫開發(fā)

高端集成電路設(shè)計

產(chǎn)品應用

光電器件和微機械系統(tǒng)

新型材料與器件

無損探傷與測試

超低頻噪聲領(lǐng)域