MPI 手動(dòng)晶圓級(jí)探針臺(tái)系統(tǒng)（微屏蔽）TS300-SE/TS200-SE返回列表
MPI 手動(dòng)晶圓級(jí)探針臺(tái)系統(tǒng)(微屏蔽)
完善的半導(dǎo)體領(lǐng)域、微納米實(shí)驗(yàn)室測(cè)試方案集成商
MPI TS300-ShielDEnvironment™(TS300-SE)12英寸探針臺(tái)旨在對(duì)300mm晶圓及以下微小器件提供高級(jí)EMI / RFI /不透光屏蔽，超低噪聲，低泄漏測(cè)量功能環(huán)境。 它以較佳高度與防震臺(tái)結(jié)合在一起，使日常操作非常方便。
適用于多種晶圓量測(cè)應(yīng)用
• ，如組件特性描述和建模、射頻和毫米波、晶圓級(jí)可靠性 (WLR) 和失效分析 (FA)
MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽環(huán)境
• 專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所設(shè)計(jì)的精密量測(cè)環(huán)境
• 支援飛安級(jí)低漏電量量測(cè)
• 內(nèi)置防震系統(tǒng)
MPI TS200-ShielDEnvironment™(TS200-SE)8英寸探針臺(tái)可提供高級(jí)EMI / RFI /不透光屏蔽，超低噪聲，低泄漏測(cè)量功能。
適用于多種晶圓量測(cè)應(yīng)用，
• 如組件特性描述和建模、射頻和毫米波、晶圓級(jí)可靠性 (WLR) 和失效分析 (FA)
MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽環(huán)境
• 專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所設(shè)計(jì)的精密量測(cè)環(huán)境
• 支援飛安級(jí)低漏電量量測(cè)
• 溫度量測(cè)范圍 -60 °C 至 300 °C
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