Keithley

隨時(shí)可以投入使用、可以修改的應(yīng)用測(cè)試、項(xiàng)目和器件，縮短測(cè)試開發(fā)時(shí)間

內(nèi)置測(cè)量視頻的儀器，測(cè)試視頻由全球應(yīng)用工程師提供，分為4種語言，縮短學(xué)習(xí)周期

pin to pad接觸檢查，確保測(cè)量可靠

多種測(cè)量功能

數(shù)據(jù)顯示、分析和代數(shù)運(yùn)算功

Tektronix 示波器系列

獨(dú)特的內(nèi)置頻譜分析功能由選配變?yōu)闃?biāo)配，其功能非常適合用于射頻分析。1GHz帶寬型號(hào)新升級(jí)為標(biāo)配的2根或4根1GHz 無源探頭，將1GHz示波器測(cè)試系統(tǒng)整體性能提升1倍， 上升時(shí)間從700ps 提升到350ps, 可以測(cè)試信號(hào)幾十甚至幾百M(fèi) 的高速信號(hào)，不管您是頻譜分析儀專家還是臨時(shí)使用，您都可以讓內(nèi)置頻譜分析儀立即開始工作。

優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)：

• 每臺(tái)儀器標(biāo)配 1 GHz 最大頻率

• 選配最高 3 GHz 的超寬捕獲帶寬

• 的頻譜分析儀硬件

• 2 或 4 條模擬

• 16 條數(shù)字1

• 1 臺(tái)頻譜分析儀

業(yè)界較佳的探頭性能

作為測(cè)量信號(hào)路徑中的關(guān)鍵元件，探頭不容忽視。由于擁有示波器負(fù)載 (3.9 pF)，TPP 系列探頭將成為您日常使用的隨身探頭。

· TPP 系統(tǒng)探頭為標(biāo)配。每條模擬通道一只。

· 3.9 pF 的電容性探頭負(fù)載。

· 250 MHz、500 MHz 或 1 GHz 探頭帶寬，取決于儀器帶寬。

微小信號(hào)測(cè)量精度提升高達(dá) 40%

測(cè)量微小信號(hào)時(shí)，為獲得更佳的測(cè)量精度，降低儀器的本底噪聲至關(guān)重要。3 系列 MDO 中使用的全新前端設(shè)計(jì)有助于您將噪聲測(cè)量精度提升高達(dá) 40%。評(píng)估示波器時(shí)，請(qǐng)務(wù)必仔細(xì)檢查示波器的隨機(jī)噪聲技術(shù)規(guī)格。示波器各不相同，且并非所有示波器制造商均會(huì)測(cè)試和發(fā)布其隨機(jī)噪聲規(guī)格。

全自動(dòng)半導(dǎo)體參數(shù)分析儀系列

S530 參數(shù)化測(cè)試系統(tǒng) 適用于必須操作各種設(shè)備和技術(shù)的生產(chǎn)和實(shí)驗(yàn)室環(huán)境，提供業(yè)界較佳的測(cè)試計(jì)劃靈活性、自動(dòng)化、探頭測(cè)試臺(tái)集成以及測(cè)試數(shù)據(jù)管理功能。吉時(shí)利擁有超過 30 年的專業(yè)經(jīng)驗(yàn)，針對(duì)這些測(cè)試解決方案的設(shè)計(jì)向全世界的客戶提供各種標(biāo)準(zhǔn)和自定義參數(shù)化測(cè)試儀。

Keithley 參數(shù)化測(cè)試系統(tǒng)

S530 Parametric Test Systems

S530 參數(shù)化測(cè)試系統(tǒng) 適用于必須操作各種設(shè)備和技術(shù)的生產(chǎn)和實(shí)驗(yàn)室環(huán)境，提供業(yè)界較佳的測(cè)試計(jì)劃靈活性、自動(dòng)化、探頭測(cè)試臺(tái)集成以及測(cè)試數(shù)據(jù)管理功能。吉時(shí)利擁有超過 30 年的專業(yè)經(jīng)驗(yàn)，針對(duì)這些測(cè)試解決方案的設(shè)計(jì)向全世界的客戶提供各種標(biāo)準(zhǔn)和自定義參數(shù)化測(cè)試儀。

540 參數(shù)測(cè)試系統(tǒng) 是一個(gè)全自動(dòng)化的 48 引腳參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，適用于高達(dá) 3kV 的功率半導(dǎo)體器件和結(jié)構(gòu)的晶片級(jí)測(cè)試。完全集成式 S540 已針對(duì)包括碳化硅 (SiC) 和氮化鎵 (GaN) 在內(nèi)的復(fù)合功率半導(dǎo)體材料進(jìn)行優(yōu)化，可以在單次測(cè)試觸摸中執(zhí)行所有高電壓、低電壓和電容測(cè)試。

S500 集成式測(cè)試系統(tǒng) 是高度可配置的、基于儀器的系統(tǒng)，適用于器件、晶片或暗盒級(jí)半導(dǎo)體檢定。S500 集成式測(cè)試系統(tǒng)基于我們經(jīng)過驗(yàn)證的儀器，提供創(chuàng)新的測(cè)量功能和系統(tǒng)靈活性，并且根據(jù)您的需求可進(jìn)行擴(kuò)展。獨(dú)有的測(cè)量能力結(jié)合強(qiáng)大而靈活的自動(dòng)化檢定套件 (ACS) 軟件，提供廣泛的應(yīng)用和功能。

Keithely 4200A-SCS

4200A-SCS 是一種可以量身定制、全面集成的半導(dǎo)體參數(shù)分析儀，可以同步查看電流電壓 (I-V)、電容電壓 (C-V) 和超快速脈沖式 I-V 特性。作為性能較高的參數(shù)分析儀，4200A-SCS加快了半導(dǎo)體、材料和工藝開發(fā)速度。

主要性能指標(biāo)

I-V 源測(cè)量單元 (SMU)

● ± 210 V/100 mA 或 ± 210 V/1 A 模塊

● 100 fA 測(cè)量分辨率

● 選配前端放大器提供了 0.1 fA 測(cè)量分辨率

● 10 mHz - 10 Hz 超低頻率電容測(cè)量

● 四象限操作

● 2 線或 4 線連接

C-V 多頻率電容單元 (CVU)

● AC 阻抗測(cè)量 (C-V, C-f, C-t)

● 1 kHz - 10 MHz 頻率范圍

● ± 30 V (60V差分)內(nèi)置 DC 偏置源，可以擴(kuò)展到 ± 210 V(420 V 差分 )

● 選配 CVIV 多功能開關(guān)，在 I-V 測(cè)量和 C-V 測(cè)量之間簡(jiǎn)便切換

脈沖式 I-V 超快速脈沖測(cè)量單元 (PMU)

● 兩個(gè)獨(dú)立的或同步的高速脈沖 I-V 源和測(cè)量通道

● 200 MSa/s，5 ns 采樣率

● ±40 V (80 V p-p)，±800 mA

● 瞬態(tài)波形捕獲模式

● 任意波形發(fā)生器Segment ARB®模式，支持多電平脈沖波形，10ns可編程分辨率

高壓脈沖發(fā)生器單元 (PGU)

● 兩個(gè)高速脈沖電壓源通道

● ±40 V (80 V p-p)，± 800 mA

● 任意波形發(fā)生器Segment ARB®模式，支持多電平脈沖波形，10ns可編程分辨率

-V/C-V 多開關(guān)模塊 (CVIV)

● 在 I-V 測(cè)量和 C-V 測(cè)量之間簡(jiǎn)便切換，無需重新布線或 抬起探針

● 把 C-V 測(cè)量移動(dòng)到任意端子，無需重新布線或抬起探針

遠(yuǎn)程前端放大器 / 開關(guān)模塊 (RPM)

● 在 I-V 測(cè)量、C-V 測(cè)量和超快速脈沖 I-V 測(cè)量之間自動(dòng) 切換

● 把 4225-PMU 的電流靈敏度擴(kuò)展到數(shù)十皮安

● 降低電纜電容效應(yīng)