英鉑科學(xué)儀器提供探針臺分類有：真空探針臺、磁場探針臺、高低溫探針臺、半自動探針臺、光電探針臺等相關(guān)產(chǎn)品

探針臺系統(tǒng)分類

探針臺從操作上來區(qū)分有：手動，半自動，全自動

從功能上來區(qū)分有：溫控探針臺，真空探針臺(超低溫探針臺)，RF探針臺，LCD平板探針臺，霍爾效應(yīng)探針臺，表面電阻率探針臺

經(jīng)濟手動型

根據(jù)客戶需求定制

chuck尺寸：4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可選)

X-Y移動行程：4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12"(可選)

chuck Z軸方向升降10mm(選項)方便探針與樣品快速分離

顯微鏡：金相顯微鏡、體式顯微鏡、單筒顯微鏡(可選)

顯微鏡移動方式：立柱環(huán)繞型、移動平臺型、龍門結(jié)構(gòu)型(可選)

探針座：有0.7um、2um、10um精度可選，磁性吸附帶磁力開關(guān)

可搭配Probe card測試

適用領(lǐng)域：晶圓廠、研究所、高校等

半自動型

chuck尺寸800mm/600mm

X,Y電動移動行程200mm/150mm

chuck粗調(diào)升降9mm，微調(diào)升降16mm

可搭配MITUTOYO金相顯微鏡或者AEC實體顯微鏡

針座擺放個數(shù)6～8顆

顯微鏡X-Y-Z移動范圍2"x2"x2"

可搭配Probe card測試

適用領(lǐng)域：8寸/6寸Wafer、IC測試之產(chǎn)品

電動型

chuck尺寸1200mm，平坦度土1u(不銹鋼或鍍金)

X,Y電動移動行程300mm x 300mm

chuck粗調(diào)升降9mm，微調(diào)升降16mm，微調(diào)精度土1u

可搭配MITUTOYO晶像顯微鏡或者AEC實體顯微鏡

針座擺放個數(shù)8～12顆

顯微鏡X-Y-Z移動范圍2“x2”x2“

材質(zhì)：花崗巖臺面+不銹鋼

可搭配Probe card測試

適用領(lǐng)域：12寸Wafer、IC測試之產(chǎn)品

LCD半自動探針臺

機械手臂取放片

電動、鍵入坐標(biāo)尋位置

量測尺寸(mm)：1800x1600、1300x1200、1200x1000

LCD手動探針臺

白熾燈或者LED整面背光

TFT元件特性、Driver IC量測分析

機臺尺寸(mm)：800x600、500x400、300x300

PCB量測探針臺(TDR)

高頻測試探頭GSG / GS / SG

頻率10GHZ / 40GHZ / 50GHZ / 67GHZ

機臺尺寸同LCD 探針臺

太陽能產(chǎn)業(yè)探針臺(Solar Cell 量測系統(tǒng))

量測軟體:

I-V /C-V Curve, Isc, Voc,

Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor,

Power Convert Efficiency

采用KEITHLEY Source Meter

可加配任意品牌之太陽光模擬器

點擊查看更多探針臺系統(tǒng)產(chǎn)品