高低溫半自動探針臺使用說明詳細介紹返回列表
高低溫半自動探針臺產(chǎn)品有：SiPH Probe SystemTS3000-SE Probe SystemTS3000 Probe SystemTS2000-SE Probe SystemTS2000 Probe S
高低溫半自動探針臺產(chǎn)品有：
MPI為其著名的TS2000-SE，TS3000，TS3000-SE，TS3500和TS3500-SE探針系統(tǒng)設計了專用的SiPH升級，包括：
• 高精度光纖對準系統(tǒng)的各種選項，可用于超快速掃描程序
• 面向OO，OE，EO和EE設備配置的多種測量功能
• 集成的Z感應功能可檢測光纖與晶圓的接觸點
• 使用兩個光纖臂時的防撞保護
• -40°C至200°C的寬溫度范圍
• 可選的暗箱，用于在密閉環(huán)境中進行測試
• 廣泛的軟件包，支持輕松集成到操作員的測試執(zhí)行人員
查看更多半自動探針臺系統(tǒng)產(chǎn)品
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