英鉑助集美大學(xué)搭建半導(dǎo)體器件低溫電學(xué)測試系統(tǒng)返回列表
CPS-50低溫真空閉循環(huán)磁場探針臺
產(chǎn)品應(yīng)用：
它可以對器件進(jìn)行非破壞性的測試，適用于材料或器件的電學(xué)特性測量、光電特性測量、參數(shù)測量、high Z測量、DC測量、RF測量和微波特性測量等。
產(chǎn)品參數(shù)：
• 采用閉循環(huán)制冷機(jī)制冷，不需消耗任何液氮或液氦
• 基本系統(tǒng)溫度范圍：8K(1.5W冷頭）10K(1.2W冷頭）到350K，系統(tǒng)冷卻時間<2小時
• 高溫選件溫度范圍：20K到675K
• 探針臂分別在防輻射屏和樣品臺上熱沉，探針臂上安裝溫度感器進(jìn)行溫度監(jiān)測
• 控溫穩(wěn)定性：小于100K時，溫度穩(wěn)定性≤士50mK;全溫度區(qū)間，溫度穩(wěn)定性≤士10
• 樣品更換循環(huán)時間4小時
• 低振動設(shè)計
• 測量DC到67GHz
• 各種樣品架適于低噪音，高頻，高阻測量
• 最大測試樣品尺寸51mm（2in)直徑
• 最多可使用6個探針臂
• 探針臂可進(jìn)行3軸調(diào)整和平面內(nèi)士5度的調(diào)整
產(chǎn)品介紹：
CPS-50是一個低成本不需要低溫制冷劑的探針臺，器件的最大尺寸可達(dá)到51mm(2inch)，低溫磁場探針臺器件最大尺寸30mm。系統(tǒng)的探針、測線纜、樣品架都有多種類型可供選擇，可滿足不同用戶的需要。
FS-Pro半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)
產(chǎn)品介紹：
FS-Pro半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)是一款功能全面、配置靈活的半導(dǎo)體器件電學(xué)特性分析設(shè)備。
在一個系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)了電流電壓(IV)測試、電容電壓(CV)測試、脈沖式IV測試、任意線性波形發(fā)生與測量、高速波形發(fā)生與釆集以及低頻噪聲測試能力，幾乎所有半導(dǎo)體器件的低頻特性表征都可以在FS-Pro測試系統(tǒng)中完成。
產(chǎn)品優(yōu)勢：
1.一體化設(shè)備，單機(jī)可采集高精度IV、CV、脈沖IV高速波形和瞬態(tài)IV采樣及1/f噪聲
2.功能強(qiáng)大，寬電壓電流輸出范圍、高精度支持高速采樣時域信號采集和任意線性波形生成
3.廣受認(rèn)可，被眾多科研院所、芯片設(shè)計公司和代工廠、IDM公司釆用，目前已有國內(nèi)外百余家客戶
4.模塊化架構(gòu)，支持靈活、可擴(kuò)展的測試配置
5.簡單易用，內(nèi)置專業(yè)LabExpress測量控制分析軟件，無需復(fù)雜編程可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)測量設(shè)置、執(zhí)行和數(shù)據(jù)分析
6.源表，可用作981X系列內(nèi)部SMU模塊，無縫集成到981X系列噪聲測試系統(tǒng)
產(chǎn)品應(yīng)用：
廣泛應(yīng)用于各種半導(dǎo)體器件、LED材料、二維材料器件、金屬材料、新型先進(jìn)材料與器件測試、器件可靠性等研究領(lǐng)域。
