英鉑攜Hanwa助廣州增芯搭建12寸晶圓級(jí)TLP&探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)返回列表
Hanwa HED-T5000-HC測(cè)試儀
產(chǎn)品介紹：
Hanwa HED-T5000用于半導(dǎo)體元器件靜電保護(hù)電路抗靜電能力的測(cè)試，通過(guò)該測(cè)試可以清楚的了解到元器件的抗靜電能力的特性參數(shù)，器件開(kāi)發(fā)人員通過(guò)這些參數(shù)可以了解到元器件ESD設(shè)計(jì)窗口，從而對(duì)元器件保護(hù)電路作進(jìn)一步改進(jìn)；該設(shè)備也可通過(guò)給GATE端加DC電源，測(cè)試功率器件的SOA特性曲線。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：
1.性能穩(wěn)定，國(guó)內(nèi)大廠的選擇
2.搭配多個(gè)上升沿，滿足不同需求
3.支持SOA測(cè)試，可同時(shí)施加多個(gè)偏置電壓
4.測(cè)試軟件簡(jiǎn)明直接，易操作易上手
5.硬件操作便捷，探頭易切換易點(diǎn)針
產(chǎn)品應(yīng)用：
1.ESD模型等效分析
2.SOA測(cè)試
3.瞬態(tài)波形分析
YB1200-A探針臺(tái)
產(chǎn)品介紹：
YB1200-A是300mm手動(dòng)探針臺(tái)系統(tǒng)，可以提供準(zhǔn)確可靠的DC/CV, RF/高功率(10000V 30A)測(cè)量。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：
1、單機(jī)多應(yīng)用設(shè)計(jì)
•適用于多種晶圓/集成電路/功率器件/光學(xué)材料量測(cè)應(yīng)用，如射頻和 DC、IV/CV 測(cè)試晶圓級(jí)可靠性
2、具備工效學(xué)設(shè)計(jì)
•XY 軸微調(diào)的載物臺(tái)設(shè)計(jì)
•堅(jiān)固且可乘載多達(dá) 10 支 DC 或 4 支 RF 微定位器的工作臺(tái)
•兩段式工作臺(tái)快升把手設(shè)計(jì),接觸(contact） - 分離（loading)，實(shí)現(xiàn)高可靠性、高效率性
•具備英鉑科學(xué)儀器獨(dú)有專利技術(shù)的氣浮式移動(dòng)樣品臺(tái)，搭配微調(diào)千分尺或絲桿位移
3、彈性選配與升級(jí)性
•另有多種晶圓載物臺(tái)可做升級(jí)，亦有諸多配件如 DC/RF/mmW 微定位器、光學(xué)顯微鏡、電磁屏蔽箱/防震系統(tǒng)可搭載，以完全支援您的應(yīng)用需求
4、高壓人機(jī)安全防護(hù)設(shè)計(jì)
•Platen 底部特征聚合物高壓防護(hù)設(shè)計(jì)
•Chuck 獨(dú)特安全隔離防護(hù)設(shè)計(jì)
•采用德國(guó) PEEK 雙層高壓防護(hù)環(huán)套設(shè)計(jì)的針桿（標(biāo)準(zhǔn) SHV Coaxial 接口）通用keithley&keysight 高壓儀表
•紅外感測(cè) interlock 安全互鎖機(jī)制
產(chǎn)品應(yīng)用：
該系統(tǒng)主要應(yīng)用于晶圓級(jí)高低頻電學(xué)特性的測(cè)試，可升級(jí)最高頻可達(dá)110G測(cè)試，滿足于12寸、8寸、6寸、4寸、2寸及碎片等產(chǎn)品應(yīng)用測(cè)試。具備多模塊應(yīng)用升級(jí)，如高溫，防震屏蔽，光學(xué)等。
