MPI TS2000-SE半自動(dòng)探針臺(tái)

產(chǎn)品介紹：

MPI的TS2000-SE/8寸半自動(dòng)探針臺(tái)是具有創(chuàng)新功能的200mm自動(dòng)化晶圓測(cè)試系統(tǒng)，其包含獨(dú)特的側(cè)面自動(dòng)裝卸功能和超高屏蔽下的超低噪聲環(huán)境。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

1、ShielDEnvironment

MPI ShielDEnvironment是一個(gè)高性能的微屏蔽暗箱，可為超低噪聲，低電容測(cè)量提供出色的EMI和不透光的屏蔽測(cè)試環(huán)境

2、自動(dòng)化晶圓裝載系統(tǒng)

該功能提供了非常方便的晶圓裝載，并且易于針對(duì)自動(dòng)程序進(jìn)行預(yù)對(duì)準(zhǔn)，可支持100mm、150mm、200mm等不同尺寸的晶圓，針對(duì)高低溫環(huán)境下可提高測(cè)試效率

3、ERS獨(dú)特的 AC3冷卻技術(shù)

MPI旗下全系列探針臺(tái)系統(tǒng)均采用ERS的AC3冷卻技術(shù)和自我管理系統(tǒng)，可使用回收的冷卻空氣吹掃M(jìn)PI ShielDEnvironment，可大幅減少30%至50%的空氣消耗

4、側(cè)視影像系統(tǒng)(VCE)

借助MPI 8寸探針臺(tái)獨(dú)特的自動(dòng)側(cè)視– VCE影像系統(tǒng)可視化的觀察探針針尖與樣品之間的接觸，使用DC或RF等探針卡非常安全

產(chǎn)品應(yīng)用：

1、模塊量測(cè) - DC-IV / DC-CV / Pulse-IV

2、射頻和毫米波 - 26 GHz 至 110 GHz 及以上

3、失效分析 - 探針卡 / 節(jié)間探測(cè)

4、可靠性測(cè)試 - 熱/ 冷 / 長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試

5、高功率測(cè)試 - 至高 10 kV / 600 A

6、MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽環(huán)境，專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所設(shè)計(jì)的精密量測(cè)環(huán)境

7、支持飛安級(jí)低漏電值量測(cè)

8、支持溫度范圍 -60 °C 至 300 °C

讀出電路測(cè)試模塊

1、分析系統(tǒng)主要由系統(tǒng)硬件、控制軟件和數(shù)據(jù)處理軟件三部分組成。

系統(tǒng)硬件由設(shè)備控制單元、信號(hào)調(diào)理及數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)、多路(矩陣)開(kāi)關(guān)、產(chǎn)品測(cè)試接口盒、示波器及數(shù)字萬(wàn)用表等組成；軟件部分可實(shí)現(xiàn)與半自動(dòng)探針臺(tái)的實(shí)時(shí)通訊，完成對(duì)電路的半自動(dòng)測(cè)試及測(cè)試結(jié)果輸出，由主程序、參數(shù)設(shè)置界面、測(cè)試界面等組成。

2、配合半自動(dòng)探針臺(tái)可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集、處理以及結(jié)果的評(píng)判等功能。