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交付案例

首發(fā)|華科一次性購入三套系統(tǒng),搭建存儲器件測試平臺返回列表

裝機產(chǎn)品:TS150、TS200-SE、TS3000-SE

TS150

產(chǎn)品介紹:

TS150應(yīng)用于測試半導(dǎo)體晶圓級、器件類電學(xué)特性,具備可以快速拖動樣品臺,更換樣品功能,并且有著獨特Platen平臺設(shè)計,測試重復(fù)性提高95%。MPI 全系列探針臺具備模塊化設(shè)計,可搭配不同變倍比顯微鏡,同時與德國ERS聯(lián)合開發(fā)設(shè)計具有氣冷溫控技術(shù)的Thermal Chuck同步使用。

產(chǎn)品優(yōu)勢:

1、氣浮式樣品移動系統(tǒng)

MPI獨特的氣墊載物臺設(shè)計,具有簡單的單手冰球控制,為操作人員提供了很強的便利性,可實現(xiàn)快速XY導(dǎo)航和快速晶圓裝載,同時又不影響精確的定位功能。

2、高度調(diào)整比例

探針臺工作臺面具有25毫米的精細(xì)高度調(diào)節(jié),支持各種應(yīng)用,獨特的1mm精確刻度可準(zhǔn)確指示當(dāng)前位置。

3、多種卡盤選項

手動系統(tǒng)可提供多種卡盤選項,以滿足不同的預(yù)算和應(yīng)用需求。 

4、多種光學(xué)系統(tǒng)選擇

提供多種光學(xué)器件,可以在用于普通DC / CV應(yīng)用的立體聲或用于射頻配置的單管MPI SZ10或MZ12之間進(jìn)行選擇。

5、屏蔽系統(tǒng)

暗箱為超低噪聲直流測量提供EMI屏蔽和不透光的測試環(huán)境。

6、多種光學(xué)系統(tǒng)選擇

提供多種光學(xué)器件,可在普通DC / CV應(yīng)用的立體聲或射頻配置的單管MPI SZ10或MZ12之間進(jìn)行選擇。

產(chǎn)品應(yīng)用:

適用于多種晶圓量測應(yīng)用,如組件特性描述和建模,晶圓級可靠性 (WLR)、失效分析 (FA)、集成電路工程、微型機電系統(tǒng) (MEMS) 和高功率 (HP)。

TS200-SE

產(chǎn)品介紹:

MPI TS200-SE 8英寸探針臺可提供高級EMI / RFI /不透光屏蔽,超低噪聲,低泄漏測量功能。

1、適用于多種晶圓量測應(yīng)用,如組件特性描述和建模、射頻和毫米波、晶圓級可靠性 (WLR) 和失效分析 (FA)

2、MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽環(huán)境,專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所設(shè)計的精密量測環(huán)境

3、支援飛安級低漏電量量測

4、溫度量測范圍 -60 °C 至 300 °C

產(chǎn)品優(yōu)勢:

1、ShielDEnvironment™

MPI ShielDEnvironment™是一個高性能的屏蔽系統(tǒng),可為超低噪聲,低電容測量提供出色的EMI和不透光的屏蔽測試環(huán)境。

2、ShielDCap™

MPI ShielDCap™便于屏蔽,易于多種搭配,在簡化日常操作方面發(fā)揮了重要作用;完整的ShielDCap™可以很容易地用EMI屏蔽版本的探針卡支架替換。

3、空氣軸承

MPI獨特的氣墊載物臺設(shè)計,具有簡單的單手冰球控制,為快速的XY導(dǎo)航和晶圓裝載提供了操作的便利性,同時又具有額外精密的25x25mm的XY-Theta千分尺機芯,不影響精確定位能力。 

4、溫度控制集成

晶圓裝載門可以在15°C以下的任何溫度下鎖定,此獨特功能使TS200-SE成為市場上安全的手動探針臺,此外,溫控系統(tǒng)可以通過集成式的觸摸屏來操作,該觸摸屏放置在操作員面前的便利位置,以實現(xiàn)快速的反饋。

5、ERS獨特的AC3冷卻技術(shù)

MPI旗下探針臺系統(tǒng)均采用ERS的AC3冷卻技術(shù)及其空氣管理系統(tǒng),可減少多達(dá)30%至50%的干燥空氣消耗。

6、多種光學(xué)系統(tǒng)選擇

MPI光學(xué)器件可以選擇單筒顯微鏡MPI SuperZoom™SZ10,高達(dá)12倍光學(xué)變焦的MegaZoom™MZ12或超過42毫米工作距離的EeyZoom™EZ10 ——其具有人體工程學(xué)20倍目鏡的10倍光學(xué)變焦系統(tǒng),90mm工作距離和低至2um以下的光學(xué)分辨率。

TS3000-SE

產(chǎn)品介紹:

TS3000-SE是TS3000探針臺系統(tǒng)的升級開發(fā),該系統(tǒng)配備了MPI ShielDEnvironment™,可實現(xiàn)超低噪聲,滿足設(shè)備的需求表征,晶圓級可靠性以及RF和mmW等多種應(yīng)用。

產(chǎn)品優(yōu)勢:

1、適用于多種晶圓量測應(yīng)用,支持2"、4"、6"、8"、12"等晶圓測試并兼容4×4mm碎片測試

2、模塊量測 - DC-IV, DC-CV, Pulse-IV, ESD, 1/f,RTS

3、射頻和毫米波 - 26 GHz 至 110 GHz 及以上

4、可靠性測試 - 精確的壓力測試

5、MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽環(huán)境

6、專為 EMI / RFI / Light-tight 屏蔽所設(shè)計的精密量境,以得到 1/f 超低噪測試結(jié)果

7、支援 fA 級超低噪 IV 量測

8、可編程的顯微鏡滑臺實現(xiàn)自動化之簡便操作

9、具配置彈性的溫度可量測范圍 -60 °C 至 300 °C

產(chǎn)品應(yīng)用:

適用于多種晶圓量測應(yīng)用。

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