英鉑攜手凌光紅外助力華師大搭建微光顯微鏡測試系統(tǒng)返回列表
產(chǎn)品介紹：
LUXET InGaAs 50 or 100是一款微光顯微鏡系統(tǒng)。配備了手動運(yùn)動系統(tǒng)（可選配全自動運(yùn)動系統(tǒng)）、深度制冷型InGaAs相機(jī)、不同倍率的顯微鏡頭以及鎖相測量模式，可以適用于半導(dǎo)體器件的失效點(diǎn)定位。
產(chǎn)品優(yōu)勢：
1、深度制冷InGaAs相機(jī)
•波長范圍覆蓋900-1700nm，深度制冷InGaAs相機(jī)（配置決定），深度制冷相機(jī)在近紅外波段有極高的量子效率。
2、不同倍率的顯微鏡頭
•1.35X,5X,20X,50X,100X
3、LOCK-IN
•提供鎖相測量模式，鎖相測量模式是通過調(diào)制施加的功率，利用數(shù)字鎖相算法來達(dá)到降低背景噪聲的目的。利用這個(gè)技術(shù)，器件的失效點(diǎn)可以非常精準(zhǔn)地被定位出來。
4、可配置測量軟件
•自主研發(fā)的測量軟件，包含圖像暫存、電壓-電流測量等功能。
產(chǎn)品應(yīng)用：
可廣泛應(yīng)用于偵測各種元件缺陷所產(chǎn)生的漏電流，包括閘極氧化層缺陷(Gateoxidedefects)、靜電放電破壞(ESDFailure)、閂鎖效應(yīng)(LatchUp)、漏電(Leakage)、接面漏電(JunctionLeakage)、順向偏壓(ForwardBias)及在飽和區(qū)域操作的電晶體，可藉由該系統(tǒng)進(jìn)行定位，找熱點(diǎn)(HotSpot或找亮點(diǎn))位置，進(jìn)而得知缺陷原因，幫助后續(xù)進(jìn)一步的故障分析。多應(yīng)用場景：如CMOS傳感器、PCB板材、封裝器件、LED相關(guān)晶體管等檢測分析。
