產(chǎn)品概要：

MPI的TS2000-IFE是8寸全自動(dòng)高低溫高功率探針臺(tái)，可在開放式的環(huán)境下做高低溫測(cè)試，專門為產(chǎn)品工程，故障分析，設(shè)計(jì)驗(yàn)證，晶圓級(jí)可靠性以及RF和mmW應(yīng)用而設(shè)計(jì)。設(shè)備設(shè)計(jì)合理，支持多種標(biāo)準(zhǔn)接口，能與各種測(cè)試儀器無縫連接，滿足不同產(chǎn)品的測(cè)試需求，是提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵工具。

RF&高壓測(cè)試：

通過自動(dòng)化探針系統(tǒng)，能夠精確地接觸被測(cè)組件，其高頻性能支持在射頻范圍內(nèi)（從DC到幾十GHz）進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)量，適用于射頻器件、功率放大器、濾波器等高頻產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

在高功率測(cè)試中，探針臺(tái)能夠有效應(yīng)對(duì)高電流和高功率信號(hào)的需求，結(jié)合智能化軟件，用戶可以快速進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)試，自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)，減少手動(dòng)操作的時(shí)間，提高測(cè)試效率。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

1、模塊量測(cè) - DC-IV / DC-CV / Pulsed-IV

2、溫度范圍-60°C至300°C

3、較強(qiáng)的靈活性

4、具有特定設(shè)計(jì)的電纜接口，大大縮小與功能測(cè)試儀之間的電纜距離，實(shí)現(xiàn)更好的測(cè)量方向性

5、具備可升級(jí)全自動(dòng)探針臺(tái)的基礎(chǔ)，可裝載5片不同支持或者25片的晶圓的裝載

6、較小的卡盤到工作臺(tái)面高度可實(shí)現(xiàn)不錯(cuò)的內(nèi)部節(jié)點(diǎn)探測(cè)

7、系統(tǒng)采用集成的隱藏式溫控系統(tǒng)，可以大大降低系統(tǒng)的占地面積

產(chǎn)品應(yīng)用：

廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、通信、電子產(chǎn)品研發(fā)測(cè)試和生產(chǎn)中，專門為產(chǎn)品工程，故障分析，設(shè)計(jì)驗(yàn)證，晶圓級(jí)可靠性以及RF和mmW應(yīng)用而設(shè)計(jì)。