TS2000-HP

產(chǎn)品介紹：

MPI的TS2000-HP半自動(dòng)化探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)可提供8英寸及以下晶圓器件的高功率測(cè)量，先進(jìn)的ShielDEnvironment™可提供低噪聲和屏蔽的測(cè)試環(huán)境。

技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

1、適合至高 10kV / 600A (脈沖)的晶圓級(jí)高功率組件量測(cè)

2、提供載片下的高功率動(dòng)、靜態(tài)參數(shù)的測(cè)試

3、晶圓載物臺(tái)表面鍍金，接觸電阻面積小;真空吸孔優(yōu)化，適合裝載至薄 50 µm 的薄晶圓

4、可選配搭載 Taiko 晶圓載物臺(tái)

5、提供抗電弧解決方案

6、MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽環(huán)境

7、專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所設(shè)計(jì)的精密量測(cè)環(huán)境

8、支援飛安級(jí)低漏電值量測(cè)

9、溫度量測(cè)范圍 -60 °C to 300 °C

Keithley PCT參數(shù)波形記錄儀

產(chǎn)品介紹：

Keithley參數(shù)波形記錄儀（代替原晶體管圖示儀）支持所有的設(shè)備類型和測(cè)試參數(shù)。Keithley參數(shù)波形記錄提供高功率同步電流電壓曲線測(cè)試（IV曲線測(cè)試）、電容電壓曲線測(cè)試（CV曲線測(cè)試）和高功率脈沖IV曲線測(cè)量。

技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

1、完善的解決方案，價(jià)格實(shí)惠且性能優(yōu)異

2、可現(xiàn)場(chǎng)升級(jí)和重新配置，將 PCT 轉(zhuǎn)換成可靠性或晶片分類測(cè)試儀

3、可配置功率電平：200V 至 3kV；1A 至 100A

4、寬動(dòng)態(tài)范圍：µV 至 3kV；fA 至 100A

5、全量程容-電壓 (C-V) 能力：fF 至 µF；支持 2、3 和 4 端器件；高達(dá) 3kV DC 偏移

6、高性能測(cè)試夾具支持一系列軟件包類型

7、探頭測(cè)試臺(tái)接口支持常見的探頭類型，包括 HV 同軸三線電纜、SHV 同軸電纜、標(biāo)準(zhǔn)同軸三線電纜等