產(chǎn)品介紹

1.、MPI的 TS3000 是半自動(dòng)300mm探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)，搭配獨(dú)特的可開放式做高低溫測(cè)試，專門為產(chǎn)品工程，故障分析，設(shè)計(jì)驗(yàn)證，晶圓級(jí)可靠性以及RF和mmW應(yīng)用而設(shè)計(jì)。

2、帶有 KTE 7 軟件的KeithleyS530 系列參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，可提供高速、完全靈活的配置，能夠隨著新應(yīng)用的出現(xiàn)和需求變化而不斷發(fā)展。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

MPI TS3000

• 模塊量測(cè) - DC-IV / DC-CV / Pulsed-IV / RF / HP

• 溫度范圍-60°C至300°C

• 較強(qiáng)的靈活性

• 具有和電纜接口的與功能測(cè)試儀的最小的連接距離，可實(shí)現(xiàn)更好的測(cè)量穩(wěn)定性

• 較小的Chuck到工作臺(tái)面高度可實(shí)現(xiàn)不錯(cuò)的內(nèi)部節(jié)點(diǎn)探測(cè)

• 內(nèi)部集成自動(dòng)檢測(cè)露點(diǎn)安全控制系統(tǒng)，將系統(tǒng)占地面積降至較低

泰克 S540

• 在單次探頭觸摸中自動(dòng)在多達(dá) 48 個(gè)引腳上執(zhí)行所有晶片級(jí)參數(shù)測(cè)試，包括高電壓擊穿、電容和低電壓測(cè)量，而無(wú)需更改電纜或探頭卡基礎(chǔ)設(shè)施

• 在最高達(dá) 3kV 的條件下執(zhí)行晶體管電容測(cè)量，如 Ciss、Coss 和 Crss，而無(wú)需手動(dòng)配置測(cè)試引腳

• 在高速、多引腳、全自動(dòng)測(cè)試環(huán)境中實(shí)現(xiàn)低電平測(cè)量性能

• 基于 Linux 的 Keithley 測(cè)試環(huán)境 (KTE) 系統(tǒng)軟件支持輕松進(jìn)行測(cè)試開發(fā)和快速執(zhí)行

• 非常適合于過程集成、過程控制監(jiān)控和生產(chǎn)芯片分類中的全自動(dòng)或半自動(dòng)應(yīng)用

• 通過減少測(cè)試時(shí)間、測(cè)試設(shè)置時(shí)間和占地面積，降低擁有成本，同時(shí)實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)室級(jí)測(cè)量性能

泰克 S530

•High Speed Production Test Solutions

• Applications include Semiconductor Process Control Monitoring(PCM),TEG Test,and Die Sort

• Parallel Test capability maximizes test throughput

• Measure from kV to fA in a single probe touchdown to further boost productivity

• ISO-17025 System-level calibration

• Smooth migration from legacy test systems, including probe card re-use

• Low Cost-of-Ownership(COO)