產(chǎn)品介紹：

器件帶電模型測試機HED-C5000R，用于測試IC器件CDM模型下的抗靜電能力，符合國際標準AEC，JEDEC / ESDA JS-002的要求。滿足不同封裝形式半導體器件的工藝研發(fā)和量產(chǎn)測試，操作方便，性能穩(wěn)定，已廣泛使用在國內(nèi)外先進半導體公司。

產(chǎn)品優(yōu)勢：

1、滿足JS-002，JEDEC，ESDA，AEC等全球CDM模型測試規(guī)范

2、測試電壓最高可達4KV，為同類型機臺最高

3、供應商為JS-002規(guī)格制定委員會成員，技術(shù)可靠

4、硬件軟件的使用操作簡單，容易上手，為全球半導體Leading company的推薦使用機型

5、具有D-AEC充放電功能的CDM測試機臺

產(chǎn)品介紹：

HANWA新一代G5000系列全自動ESD（HBM/MM）與閂鎖效應測試機隆重登場，最高支持2048pin，符合國際標準JEDEC /ESDA JS-001之最新要求，獨家采用無繼電器Mechanical GND設(shè)計，幾乎不受寄生電容效應的影響，避免對于先進制程IC器件造成錯誤的測試結(jié)果。

產(chǎn)品優(yōu)勢：

1、適應以下國際標準波形: JEDEC，ESDA，AEC和JEITA
2、該系統(tǒng)獨特的短路放電電路可通過其原始機械設(shè)計實現(xiàn)
3、短路最大限度地減少電感和電容對數(shù)據(jù)的影響
4、使用單個電路可確保每個器件引腳的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性