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交付案例

英鉑助力甬江實(shí)驗(yàn)室搭建半導(dǎo)體器件低溫光電測(cè)試系統(tǒng)返回列表

裝機(jī)產(chǎn)品:CPS-50極低溫真空閉循環(huán)探針臺(tái)

產(chǎn)品應(yīng)用:

此次項(xiàng)目主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件的低溫光電測(cè)試。

CPS-50可以對(duì)器件進(jìn)行非破壞性的測(cè)試,適用于材料或器件的電學(xué)特性測(cè)量、光電特性測(cè)量、參數(shù)測(cè)量、high Z測(cè)量、DC測(cè)量、RF測(cè)量和微波特性測(cè)量等。

產(chǎn)品參數(shù):

• 采用閉循環(huán)制冷機(jī)制冷,不需消耗任何液氮或液氦

• 基本系統(tǒng)溫度范圍:8K(1.5W冷頭)10K(1.2W冷頭)到350K,系統(tǒng)冷卻時(shí)間<2小時(shí)

• 高溫選件溫度范圍:20K到675K

• 探針臂分別在防輻射屏和樣品臺(tái)上熱沉,探針臂上安裝溫度感器進(jìn)行溫度監(jiān)測(cè)

• 控溫穩(wěn)定性:小于100K時(shí),溫度穩(wěn)定性≤士50mK;全溫度區(qū)間,溫度穩(wěn)定性≤士10

• 樣品更換循環(huán)時(shí)間4小時(shí)

• 低振動(dòng)設(shè)計(jì)

• 測(cè)量DC到67GHz

• 各種樣品架適于低噪音,高頻,高阻測(cè)量

• 最大測(cè)試樣品尺寸51mm(2in)直徑

• 最多可使用6個(gè)探針臂

• 探針臂可進(jìn)行3軸調(diào)整和平面內(nèi)士5度的調(diào)整

產(chǎn)品介紹:

CPS-50是一個(gè)低成本不需要低溫制冷劑的探針臺(tái),器件的最大尺寸可達(dá)到51mm(2inch),低溫磁場(chǎng)探針臺(tái)器件最大尺寸30mm。系統(tǒng)的探針、測(cè)線纜、樣品架都有多種類型可供選擇,可滿足不同用戶的需要。

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