產(chǎn)品介紹：

Hanwa HED-T5000用于半導(dǎo)體元器件靜電保護(hù)電路抗靜電能力的測(cè)試，通過(guò)該測(cè)試可以清楚的了解到元器件的抗靜電能力的特性參數(shù)，器件開(kāi)發(fā)人員通過(guò)這些參數(shù)可以了解到元器件ESD設(shè)計(jì)窗口，從而對(duì)元器件保護(hù)電路作進(jìn)一步改進(jìn)；

該設(shè)備也可通過(guò)給GATE端加DC電源，測(cè)試功率器件的SOA特性曲線。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

1.性能穩(wěn)定，國(guó)內(nèi)大廠的選擇

2.搭配多個(gè)上升沿，滿足不同需求

3.支持SOA測(cè)試，可同時(shí)施加多個(gè)偏置電壓

4.測(cè)試軟件簡(jiǎn)明直接，易操作易上手

5.硬件操作便捷，探頭易切換易點(diǎn)針

產(chǎn)品應(yīng)用：

1.ESD模型等效分析

2.SOA測(cè)試

3.瞬態(tài)波形分析