產(chǎn)品應(yīng)用：

此次項目應(yīng)用于直流和射頻測試，搭建新型存儲器件極低溫測試系統(tǒng)，滿足客戶測試需求。

CPS-50可以對器件進行非破壞性的測試，適用于材料或器件的電學(xué)特性測量、光電特性測量、參數(shù)測量、high Z測量、DC測量、RF測量和微波特性測量等。

產(chǎn)品參數(shù)：

• 采用閉循環(huán)制冷機制冷，不需消耗任何液氮或液氦

• 基本系統(tǒng)溫度范圍：8K(1.5W冷頭）10K(1.2W冷頭）到350K，系統(tǒng)冷卻時間<2小時

• 高溫選件溫度范圍：20K到675K

• 探針臂分別在防輻射屏和樣品臺上熱沉，探針臂上安裝溫度感器進行溫度監(jiān)測

• 控溫穩(wěn)定性：小于100K時，溫度穩(wěn)定性≤士50mK;全溫度區(qū)間，溫度穩(wěn)定性≤士10

• 樣品更換循環(huán)時間4小時

• 低振動設(shè)計

• 測量DC到67GHz

• 各種樣品架適于低噪音，高頻，高阻測量

• 最大測試樣品尺寸51mm（2in)直徑

• 最多可使用6個探針臂

• 探針臂可進行3軸調(diào)整和平面內(nèi)士5度的調(diào)整

產(chǎn)品介紹：

CPS-50是一個低成本不需要低溫制冷劑的探針臺，器件的最大尺寸可達到51mm(2inch)，低溫磁場探針臺器件最大尺寸30mm。系統(tǒng)的探針、測線纜、樣品架都有多種類型可供選擇，可滿足不同用戶的需要。