產(chǎn)品介紹：

圖中的TS2000-IFE是8寸半自動(dòng)高低溫高功率探針臺(tái)，可在開放式的環(huán)境下做高低溫測試，專門為產(chǎn)品工程，故障分析，設(shè)計(jì)驗(yàn)證，晶圓級(jí)可靠性以及RF和mmW應(yīng)用而設(shè)計(jì)。

設(shè)備設(shè)計(jì)合理，支持多種標(biāo)準(zhǔn)接口，能與各種測試儀器無縫連接，滿足不同產(chǎn)品的測試需求，是提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵工具。

產(chǎn)品優(yōu)勢：

• 模塊量測 - DC-IV / DC-CV / Pulsed-IV

• 溫度范圍-60°C至300°C

• 較強(qiáng)的靈活性

• 具有特定設(shè)計(jì)的電纜接口，大大縮小與功能測試儀之間的電纜距離，實(shí)現(xiàn)更好的測量方向性

• 具備可升級(jí)全自動(dòng)探針臺(tái)的基礎(chǔ)，可裝載5片不同支持或者25片的晶圓的裝載

• 較小的卡盤到工作臺(tái)面高度可實(shí)現(xiàn)不錯(cuò)的內(nèi)部節(jié)點(diǎn)探測

• 系統(tǒng)采用集成的隱藏式溫控系統(tǒng)，可以大大降低系統(tǒng)的占地面積

產(chǎn)品應(yīng)用：

廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、通信、電子產(chǎn)品研發(fā)測試和生產(chǎn)中，專門為產(chǎn)品工程，故障分析，設(shè)計(jì)驗(yàn)證，晶圓級(jí)可靠性以及RF和mmW應(yīng)用而設(shè)計(jì)。