Hanwa HED-S5000R  ESD測(cè)試儀

產(chǎn)品介紹：

Hanwa HED-S5000R全自動(dòng)HBM/MM/Latch-up測(cè)試機(jī)（256pin），可一站式完成 HBM（人體模型）、MM（機(jī)器模型）、Latch?up（閂鎖）。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

1、低pin ESD測(cè)試機(jī)，可選128/256pin，支持HBM/MM/Latch-up測(cè)試模型；

2、適應(yīng)以下國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)波形：JEDEC，ESDA，AEC和JEITA；

3、多組Bias電源任意搭配選擇；

產(chǎn)品應(yīng)用：

該系統(tǒng)可用于靜電破壞自動(dòng)測(cè)定裝置，閂鎖效應(yīng)，可靠性測(cè)試，廣泛用于芯片研發(fā)、量產(chǎn)質(zhì)檢與失效分析。

Hanwa HED-C5000R CDM測(cè)試儀

產(chǎn)品介紹：

C5000R是符合日本及國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的高可靠性設(shè)備，可通過(guò)更換測(cè)試探頭，支持國(guó)際多個(gè)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，可測(cè)量器件的抗CDM能力, 測(cè)試數(shù)據(jù)可保存為文本文件形式。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

1、CDM測(cè)試機(jī)，多pin規(guī)格，全自動(dòng)測(cè)試機(jī)；

2、滿(mǎn)足JEITA/ESDA/JEDEC/AEC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)；

3、兼容FI-CDM測(cè)試。

產(chǎn)品應(yīng)用：

主要應(yīng)用于ESD（靜電放電）測(cè)試。